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1、球墨鑄鐵件超聲波探傷檢測作業(yè)指導(dǎo)書編 制： 審 核： 批 準(zhǔn)： 版 本 號(hào): ESZAQDGF001 編 制： 審 核: 批 準(zhǔn)： 發(fā) 布： 二XX年X月 目錄一、適用范圍2三、檢測范圍3五、探傷時(shí)機(jī)及準(zhǔn)備工作41、工件要集中到指定的位置。53、探傷面的表面粗糙度Ra為52、靈敏度補(bǔ)償5六、系統(tǒng)校準(zhǔn)與復(fù)核61、一般要求62、新購探頭測定63、檢測前儀器和探頭系統(tǒng)測定64、檢測過程中儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核65、檢測結(jié)束前儀器與探頭系統(tǒng)的復(fù)核76、校準(zhǔn)、復(fù)核的有關(guān)注意事項(xiàng)7七、探傷方法71、探測方向73、探傷靈敏度的確定84、補(bǔ)償85、探傷靈敏度的復(fù)查9八、缺陷記錄9九、探傷報(bào)告9一、適用范圍超聲檢2、測適用場內(nèi)球鐵鑄件的檢測。二引用標(biāo)準(zhǔn)EN 12680-3:2003鑄造超聲檢測第三部分：球墨鑄鐵件三、檢測范圍就鑄件檢測部位問題與客戶達(dá)成協(xié)議或技術(shù)部指定。需要闡明如何對這些部位進(jìn)行檢驗(yàn)，既采用點(diǎn)式還是掃描檢驗(yàn)方法，還要說明從哪個(gè)方向進(jìn)行檢驗(yàn)。四一般要求1、超聲檢測人員應(yīng)具有一定的基礎(chǔ)知識(shí)和探傷經(jīng)驗(yàn)。并經(jīng)考核取得有關(guān)部門認(rèn)可的資格證書。2、xx量程設(shè)定，對于在鋼材中傳導(dǎo)的叢波和橫波來說，至少保證在10mm到2m的范圍內(nèi)可以在量程中進(jìn)行連續(xù)選擇。增益，至少保證在80分貝范圍內(nèi)，測量精度為1分貝，超過80分貝，最大單位間距可為2分貝。時(shí)基線性和垂直線性小于屏幕調(diào)整范圍的5%。至少適用于單晶片探頭和3、雙晶片探頭脈沖回波技術(shù)中標(biāo)稱頻率在0.5MHz到5MHz（包括5MHz）的范圍。3、探頭縱波直探頭的晶片直徑應(yīng)在1030mm之間，工作頻率15MHz，誤差不得超過10%。橫波斜探頭的晶片面積應(yīng)在100400mm之間，K值一般取13.縱波雙晶直探頭晶片之間的聲絕緣必須良好。3、儀器系統(tǒng)的性能在達(dá)到所探工件的最大檢測聲程時(shí)，其有效靈敏度余量不得小于10dB。儀器與探頭的組合頻率與公稱頻率誤差不得大于10%。儀器與直探頭組合的始脈沖寬度（在基準(zhǔn)靈敏度下）：對于頻率為5MHz的探頭，寬度不大于10mm；對于頻率為2.5MHz的探頭，寬度不大于15mm。直探頭的遠(yuǎn)場分辨力應(yīng)不小于30dB，斜探頭的遠(yuǎn)場分4、辨力應(yīng)不小于6dB。五、探傷時(shí)機(jī)及準(zhǔn)備工作1、工件要集中到指定的位置。2、工件在外觀檢查合格后方可進(jìn)行超聲探傷，所有影響超聲探傷的油污及其他附著物應(yīng)予以清除。3、探傷面的表面粗糙度Ra為6.3m。六探傷方法1、為確保檢測時(shí)超聲波聲束能掃查到工件的整個(gè)被檢區(qū)域，探頭的每次掃查覆蓋率應(yīng)大于探頭直徑的15%。探頭的掃查速度不應(yīng)超過150mm/s。耦合劑應(yīng)透聲性好，且不損傷檢測表面，如機(jī)油，漿糊，甘油和水等。2、靈敏度補(bǔ)償耦合補(bǔ)償在檢測和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對由表面粗糙度引起的耦合損失進(jìn)行補(bǔ)償。衰減補(bǔ)償在檢測和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對材質(zhì)衰減引起的檢測靈敏度下降和缺陷定量誤差進(jìn)行補(bǔ)償。曲面補(bǔ)償對探測面是曲面的工件，5、應(yīng)采用曲率半徑與工件相同或相近的試塊，通過對比實(shí)驗(yàn)進(jìn)行曲率補(bǔ)償。六、系統(tǒng)校準(zhǔn)與復(fù)核1、一般要求系統(tǒng)校準(zhǔn)應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)試塊上進(jìn)行，校準(zhǔn)中應(yīng)使探頭主聲束對準(zhǔn)反射體的反射面，以獲得穩(wěn)定和最大的反射信號(hào)。2、新購探頭測定新購探頭應(yīng)有探頭性能參數(shù)說明書，新探頭使用前應(yīng)進(jìn)行前沿距離、K值、主聲束偏離、靈敏度余量和分辨力等主要參數(shù)的測定。3、檢測前儀器和探頭系統(tǒng)測定使用儀器-斜探頭系統(tǒng)，檢測前應(yīng)測定前沿距離、K值和主聲束偏離，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。使用儀器-直探頭系統(tǒng)，檢測前應(yīng)測定始脈沖寬度、靈敏度余量和分辨力，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃查量程和掃查靈敏度。4、檢測過程中儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核遇到下述情況應(yīng)對系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)6、核：校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生改變時(shí)；檢測人員懷疑掃描量程或掃描靈敏度有變化時(shí)；連續(xù)工作4h以上時(shí)；工作結(jié)束時(shí)。5、檢測結(jié)束前儀器與探頭系統(tǒng)的復(fù)核每次檢測結(jié)束前，應(yīng)對掃描量程進(jìn)行復(fù)核。如果任意一點(diǎn)在掃描線上的偏移超過掃描線讀數(shù)的10%，則掃描量程應(yīng)重新調(diào)整，并對上一次復(fù)核以來所有的檢測部位進(jìn)行復(fù)檢。每次掃描結(jié)束前，應(yīng)對掃查靈敏度進(jìn)行復(fù)核。一般對距離-波幅曲線的校核不應(yīng)少與3點(diǎn)。如曲線上任何一點(diǎn)幅度下降2dB，則應(yīng)對上一次復(fù)核以來所有的檢測部位進(jìn)行復(fù)檢；如幅度上升2dB，則應(yīng)對所有的記錄信號(hào)進(jìn)行重新評定。6、校準(zhǔn)、復(fù)核的有關(guān)注意事項(xiàng)校準(zhǔn)、復(fù)核和對儀器進(jìn)行線性檢測時(shí)，任何影響儀器線性的7、控制器（如抑制或?yàn)V波開關(guān)等）都應(yīng)放在“關(guān)”的位置或處于最低水平上。七、探傷方法1、探測方向一般在探測面上兩相互垂直的方向上進(jìn)行并盡量掃查到工件的整個(gè)體積3、探傷靈敏度的確定縱波直探頭探傷靈敏度的確定當(dāng)被探部位的厚度不大于探頭的3倍近場區(qū)時(shí)，一般選用底波確定探傷靈敏度。由于幾何形狀所限，不能獲得底波者或是探測厚度大于45mm而小于3倍近場區(qū)時(shí)，可直接采用試塊法確定探傷靈敏度。縱波雙晶直探頭靈敏度的確定按需要選擇不同直徑平底孔的試塊，并測試一組不同探測距離的平底孔。調(diào)節(jié)衰減器，使其中最高的回波幅度達(dá)到滿刻度的80%。不改變儀器的參數(shù)，測出其他平底孔回波的最高點(diǎn)，將其標(biāo)定在熒光屏上，連接這些點(diǎn)，即是8、對應(yīng)于不同平底孔的縱波雙晶直探頭的距離波幅曲線。4、補(bǔ)償表面粗糙度補(bǔ)償在探傷和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對由表面粗糙度引起的能量消耗進(jìn)行補(bǔ)償。曲面補(bǔ)償對于探測面是曲面的工作，可采用曲率與工件相同或相近（0.91.5倍）的參考試塊，否則應(yīng)補(bǔ)償因曲率不同引起的聲能損失。探傷靈敏度一般不低于工件最大探測距離出的2mm平底孔當(dāng)量。5、探傷靈敏度的復(fù)查探傷中應(yīng)檢查探傷靈敏度，發(fā)現(xiàn)探傷靈敏度有改變時(shí)應(yīng)重新調(diào)整。當(dāng)增益電平降低2dB以上時(shí)，應(yīng)對上一次校準(zhǔn)以來所檢查的工件進(jìn)行復(fù)探；當(dāng)增益電平升高2dB以上時(shí)，應(yīng)對所有缺陷進(jìn)行重新定量。八、缺陷記錄記錄當(dāng)量平底孔徑超過4mm的單個(gè)缺陷的位置和波幅。記錄當(dāng)量平底孔直徑超過2mm的缺陷密集區(qū)及其最大缺陷的位置和分布，缺陷密集區(qū)面積以12mm12mm的方塊作為最小度量單位。記錄由缺陷引起的底面回波降低區(qū)域和數(shù)值。不屬于上述情況，但探傷人員能判定是否危害性的缺陷也予以記錄。九、探傷報(bào)告探傷報(bào)告應(yīng)包括下述內(nèi)容：1、委托探傷的單位，探傷報(bào)告編號(hào)，簽發(fā)日期。2、鑄件的名稱、編號(hào)、材料牌號(hào)、探傷面的表面粗糙情況。3、探傷儀的型號(hào)、探頭型號(hào)、探傷頻率、耦合劑、探傷靈敏度和掃查方式。4、在草圖上標(biāo)明檢測區(qū)域，如有因幾何形狀限制而檢測不到的部位也必須在草圖上標(biāo)明。5、缺陷的類型、尺寸和位置。6、探傷等級和探傷結(jié)論。7、探傷人員和審核人員簽字。