1、X-R控制圖運用管理和Cpk計算與分析處理SPC作業(yè)指導書編 制： 審 核： 批 準： 版 本 號: ESZAQDGF001 編 制： 審 核: 批 準： 發(fā) 布： 二XX年X月1 目的:提供控制圖的使用準則及步驟,并且說明控制圖的使用方法,以便在運用控制圖時能夠正確地決定、設(shè)置控制界限與進行控制圖的判讀。2 適用范圍:X-R控制圖的運用管理:Cpk的計算與分析處理.3 定義:3.1計量值特性凡產(chǎn)品的質(zhì)量特性以實際測量方式取得的特性稱為計量值特性,例如重量或長度等。3.2 計數(shù)值特性凡產(chǎn)品的質(zhì)量特性以數(shù)一數(shù)的方式或簡單判斷取得的特性，稱為計數(shù)值特性,例如不良品數(shù),產(chǎn)品合格與不合格等。4 操作執(zhí)
2、行:4.1 控制圖繪制、使用步驟4.1.1 第一次使用控制圖的作業(yè)流程4.1.1.1決定須控制的特性；4.1.1.2搜集20組以上數(shù)據(jù)；4.1.1.3計算中心線(平均值)及控制上、下限；4.1.1.4繪制控制圖；4.1.1.5檢查是否有超出控制界限的點；4.1.1.6將這些超出控制界限的資料剔除，重新計算中心線(平均值)及控制上、下限；4.1.1.7決定控制圖的中心線(平均值)及控制上、下限。4.1.2 現(xiàn)場使用控制圖的作業(yè)程序4.1.2.1在規(guī)定的控制圖表上畫出控制圖的中心線(平均值)及上、下限；4.1.2.2依規(guī)定的抽樣頻率及抽樣數(shù),并將所得資料記錄于控制圖上,且依所使用的控制圖種類進行計
3、算；4.1.2.3將計算結(jié)果點于控制圖上。4.1.2.4控制圖判讀a.依控制圖判讀原則對控制圖進行判讀；b.若有異常時,則發(fā)出糾正與預(yù)防措施要求單，請職責單位調(diào)查原因并采取預(yù)防或糾正措施。4.1.2.5控制界限研討a.當完成一張控制圖時，根據(jù)控制圖表上的資料每月重新計算中心線(平均值)及控制上、下限。計算時須剔除超出控制界限的資料；b.比較計算前后之中心線(平均值)及控制上、下限；c.若無重大差異時在規(guī)定的控制圖表沿用計算前的控制中心線(平均值)及控制上、下限； d.若有明顯的差異時，可在規(guī)定的控制圖紙使用計算后的控制中心線(平均值)及控制上、下限。4.2 控制圖判讀原則判異準則：點子出界就判
4、斷異常，界內(nèi)點排列不隨機判斷異常。4.2.1正常的控制圖（符合以下各點之一認為處于正常狀態(tài)）：4 連續(xù)25個點都在控制界限內(nèi)；4 連續(xù)35個點子至多1個點子落在控制界限外4 連續(xù)100個點子至多2個點子落在控制界限外4.2.2 異常的控制圖（符合以下各點之一認為處于異常狀態(tài)）：4 有點在控制界限外或控制界限上4 連續(xù)3點中有2點在中心線同一側(cè)的B區(qū)外（即A區(qū)內(nèi)）4 連續(xù)5點中有4點在中心線同一側(cè)的C區(qū)以外 連續(xù)6點遞增或遞減，即連成一串 連續(xù)8點在中心線兩側(cè)，但沒有一點在C區(qū)中4.2.2.6 連續(xù)9點落在中心線同一側(cè) 連續(xù)14點相鄰點上下交替 連續(xù)15點在C區(qū)中心線上下，即全部在C區(qū)內(nèi)注：判斷
5、時首先要觀察點是否隨機排列，若不是隨機排列則判斷為異常；中心線外依次為平均分為C、B、A區(qū)，即1、2、3區(qū)。4.3 -R控制圖的使用方法4.3.1 先收集100個以上數(shù)據(jù),依測定的先后順序排列4.3.2 以4或4個數(shù)據(jù)為一組,分成約2024組4.3.3 將各組數(shù)據(jù)記入數(shù)據(jù)表欄位內(nèi)。4.3.4 計算各組之平均值X4.3.5 計算各組的全距R(R=MAX-MIN)4.3.6 計算總平均 =（ 1+2+k）/K= i=1 i / K ( K為組數(shù) )4.3.7 計算全距的平均 =(R1+R2+RK)/K=i=1Ri/K (K為組數(shù))4.3.8 計算控制界限:控制圖:中心線CL=,控制上限UCL= +
6、A2 ,控制下限 LCL=- A2 R控制圖:中心線CL= ,控制上限UCL=D4 ,控制下限LCL=D34.3.9 繪制中心線及控制界限，并將各點點入圖中4.4過程能力綜合指數(shù)Cpk計算4.4.1當一張X-R控制圖點畫完后，計算、，方法見5.3.6、5.3.7 規(guī)格中心值（過程均值）4.4.2 計算準確度： Ca= (-) / ( T/2) T：為公差(T=USL-LSL)4.4.3 計算標準偏差： = /d2 ( 當n=5時，d2=2.33 )4.4.4 計算精密度: Cp= T/64.4.5 計算Cpk=(1-|Ca|)*Cp，當規(guī)格公差為單邊時，Cpk=Cp 過程穩(wěn)定時 1.33Cpk1.674.5初始過程能力指數(shù)Ppk計算計算方法與Cpk計算方法相同，唯一的不同是用其定義。5 支持文件無6 支持表格X-R控制圖 SW-QC-WI041-001CPK Report SW-QC-WI041-002
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