1、承壓設(shè)備A型脈沖反射法手工超聲波無損檢測工作作業(yè)指導(dǎo)書編 制： 審 核： 批 準(zhǔn)： 版 本 號: ESZAQDGF001 編 制： 審 核: 批 準(zhǔn)： 發(fā) 布： 二XX年X月 1 為規(guī)范超聲檢測工作質(zhì)量，保證檢測工作質(zhì)量，特制定本細(xì)則。2 檢驗(yàn)依據(jù)承壓設(shè)備無損檢測（JB/T4730-xx）3 適用范圍及檢測人員3.1 本細(xì)則適用于JB/T4730.3-xx承壓設(shè)備無損檢測 第3部分：超聲檢測適用范圍內(nèi)的金屬材料制在用承壓設(shè)備用原材料、零部件和焊接接頭的A型脈沖反射法手工超聲波檢測。3.2 超聲檢測人員：一般應(yīng)符合JB/4370.1承壓設(shè)備無損檢測 第1部分：通用要求的有關(guān)規(guī)定。4 檢測設(shè)備、器

2、材和材料4.1 檢測儀 工作頻率范圍為0.5MHz10MHz 衰減器，應(yīng)有80dB以上連續(xù)可調(diào)衰減，步進(jìn)檔不大于2Db，其精度為任意相鄰12dB的誤差在1dB以內(nèi)，最大累計(jì)誤差不超過1dB。 水平線性誤差不大于1%。 垂直線性誤差不大于5%。 水平線性和垂直線性應(yīng)每隔3個(gè)月檢查一次。 4.2 探頭 晶片面積一般不應(yīng)大于500mm2，且任一邊長原則上不大于25mm。 單斜探頭聲束軸線水平偏離角不應(yīng)大于2，主聲束垂直方向不應(yīng)有明顯的雙峰。 K值偏差不超過0.1。 前沿距離偏差小于1mm。 4.3 試塊 鋼板標(biāo)準(zhǔn)試塊采用CB、CB試塊，鍛件標(biāo)準(zhǔn)試塊采用CS、CS、CS試塊，焊接接頭標(biāo)準(zhǔn)試塊采用CSK

3、-1A、CSK-A、CSK-A、CSK-A試塊。 標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)采用與被檢工件聲學(xué)性能相同或近似的材料制成，且不得有大于或等于2mm平底孔當(dāng)量直徑的缺陷； 試塊上的標(biāo)準(zhǔn)孔不得與試塊端角和相鄰標(biāo)準(zhǔn)孔的反射發(fā)生混淆。 若檢測面曲率半徑R小于等于W2/4時(shí)，應(yīng)采用與檢測面曲率相同的對比試塊（W：探頭接觸面寬度）。 4.4 系統(tǒng)性能 在達(dá)到所探工件最大檢測聲程時(shí)，其有效靈敏度余量應(yīng)不小于10dB。 直探頭的遠(yuǎn)場分辯力應(yīng)不小于30dB，斜探頭的遠(yuǎn)場分辯力應(yīng)不小于6dB。4.5 耦合劑：應(yīng)采用透聲性好，且不損傷檢測表面的耦合劑，如機(jī)油、漿糊、甘油和水。4.6 系統(tǒng)的校準(zhǔn)與復(fù)核 一般要求：系統(tǒng)校準(zhǔn)應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)試塊上

4、進(jìn)行，校準(zhǔn)中應(yīng)使探頭主聲束垂直對準(zhǔn)反射體的反射面，以獲得穩(wěn)定和最大的反射信號。 檢測前儀器和探頭系統(tǒng)測定.1 使用儀器斜探頭系統(tǒng)，檢測前應(yīng)測定前沿距離、K值和主聲束偏離，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。.2 使用儀器直探頭系統(tǒng)，檢測前應(yīng)測定始脈沖寬度、靈敏度余量和分辨力，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。 檢測過程中儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核遇有下述情況應(yīng)對系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)核：.1 校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器旋鈕發(fā)生改變時(shí)。.1 檢測人員懷疑掃描量程或掃查靈敏度有變化時(shí)。.1 連續(xù)工作4h以上時(shí)。 工作結(jié)束時(shí)。 檢測結(jié)束前儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核.1 每次檢測結(jié)束前，應(yīng)對掃描量程進(jìn)行復(fù)核。如果任意一點(diǎn)在掃描線上

5、的偏移超過掃描線讀數(shù)的10%，則掃描量程應(yīng)從新調(diào)整，并對上一次復(fù)核以來所有的檢測部位進(jìn)行復(fù)驗(yàn)。.2 每次檢測結(jié)束前，應(yīng)對掃查靈敏度進(jìn)行復(fù)核。一般對距離波幅曲線的校核不應(yīng)少于3點(diǎn)。如曲線上任意一點(diǎn)幅度下降2dB，則應(yīng)對上一次復(fù)核以來所有的檢測部位進(jìn)行復(fù)驗(yàn)；如幅度上升2dB，則應(yīng)對所有的記錄信號重新評定。5 檢測準(zhǔn)備5.1 在用承壓設(shè)備的檢驗(yàn)中，超聲檢測的檢測時(shí)機(jī)及抽檢率的選擇等應(yīng)按相關(guān)法規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)及有關(guān)技術(shù)文件的規(guī)定。5.2 所確定檢測面應(yīng)保證工件被檢部分均能得到充分檢查。5.3 焊縫的表面質(zhì)量應(yīng)經(jīng)外觀檢測合格。所有影響超聲檢測的銹蝕、飛濺和污物等都應(yīng)予以清除，其表面粗糙度應(yīng)符合檢測要求。表面的不

6、規(guī)則狀態(tài)不得影響檢測結(jié)果的正確性和完整性，否則應(yīng)做適當(dāng)?shù)奶幚怼? 超聲檢測一般方法6.1 掃查覆蓋率：為確保檢測時(shí)超聲聲束能掃查到工件的整個(gè)被檢區(qū)域，探頭的每次掃查覆蓋率應(yīng)大于探頭直徑的15%。6.2 探頭的移動速度：探頭的掃查速度不應(yīng)超過150mm/s。6.3 掃查靈敏度：掃查靈敏度通常不得低于基準(zhǔn)靈敏度。6.4 靈敏度補(bǔ)償：根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行耦合補(bǔ)償、衰減補(bǔ)償和曲面補(bǔ)償。 7 承壓設(shè)備用鋼板超聲檢測7.1 本條適用于板厚為6mm250mm的碳素鋼、低合金鋼板材的超聲檢測。7.2 探頭選用應(yīng)符合下表：板厚（mm）采用探頭公稱頻率（MHz）探頭晶片尺寸620雙晶直探頭5晶片面積不小于150mm2

7、2040單晶直探頭514mm20mm40250單晶直探頭2.520mm25mm 用雙晶直探頭檢測厚度不大于20mm的鋼板時(shí)，采用CB標(biāo)準(zhǔn)試塊； 用單晶直探頭檢測厚度大于20mm的鋼板時(shí)，采用試塊厚度與被檢鋼板厚度相近的CB標(biāo)準(zhǔn)試塊。7.4 基準(zhǔn)靈敏度 板厚不大于20mm時(shí)，用CB試塊將工件等厚部位第一次底波高度調(diào)整到滿刻度的50%，再提高10dB作為基準(zhǔn)靈敏度； 板厚大于20mm時(shí)，應(yīng)將CB試塊5平底孔第一次反射波高調(diào)整到滿刻度的50%作為基準(zhǔn)靈敏度； 板厚不小于探頭的3倍近場區(qū)時(shí)，也可取鋼板無缺陷完好部位的第一次底波來校準(zhǔn)靈敏度，其結(jié)果應(yīng)與7.4.2的要求一致。7.5 檢測方法 檢測面：可選

8、鋼板的任一軋制表面進(jìn)行檢測。 耦合方式：可采用直接接觸法或液浸法。 掃查方式：探頭沿間距不大于100mm的平行線進(jìn)行掃查，也可采用其他形式掃查。7.6 缺陷的測定和記錄 在檢測過程中，發(fā)現(xiàn)下列三種情況之一即作為缺陷：a）缺陷第一次反射波波高大于或等于滿刻度的50%，即F150%。b）當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳úǜ呶催_(dá)到滿刻度，此時(shí)，缺陷第一次反射波波高與底面第一次反射波波高之比大于或等于50%，即B1100%，而F1/B150%。c）底面第一次反射波波高低于滿刻度的50%，即B150%。 缺陷的邊界范圍或指示長度的測定方法.1 檢出缺陷后，應(yīng)在它的周圍繼續(xù)進(jìn)行檢測，以確定缺陷的范圍。.2 用雙晶直探頭

9、確定缺陷的邊界范圍或指示長度時(shí)，探頭的移動方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直，并使缺陷波下降到基準(zhǔn)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25%或使缺陷第一次反射波波高與底面第一次反射波波高之比為50%。此時(shí)，探頭中心的移動距離即為缺陷的指示長度，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。兩種方法測得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。.3 用單直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長度時(shí)，移動探頭使缺陷第一次反射波波高下降到基準(zhǔn)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25%或使缺陷第一次反射波波高與底面第一次反射波波高之比為50%。此時(shí)，探頭中心的移動距離即為缺陷的指示長度，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。兩種方法測得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。.4 確定7.6.1c）中

10、缺陷的邊界范圍或指示長度時(shí)，移動探頭（單直探頭或雙直探頭）使底面第一次反射波升高到熒光屏滿刻度的50%。此時(shí)，探頭中心的移動距離即為缺陷的指示長度，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。.5 當(dāng)板厚較薄，確需采用第二次缺陷波和第二次底波來評定缺陷時(shí)，基準(zhǔn)靈敏度應(yīng)以相應(yīng)的第二次反射波來校準(zhǔn)。7.7 缺陷的評定方法 缺陷指示長度的評定：單個(gè)缺陷按其最大指示長度作為該缺陷的指示長度。若單個(gè)缺陷的指示長度小于40mm時(shí)，可不作記錄。 單個(gè)缺陷指示面積的評定.1 一個(gè)缺陷按其指示的面積作為該缺陷的指示面積。.2 多個(gè)缺陷其相鄰間距小于100mm或間距小于相鄰較小缺陷的指示長度（取其較大值）時(shí)，以各缺陷面積之和作為

11、單個(gè)缺陷指示面積。.3 指示面積不計(jì)的單個(gè)缺陷見下表。 缺陷面積百分比的評定：在任一1m1m檢測面積內(nèi)，按缺陷面積所占的百分比來確定。如鋼板面積小于1m1m，可按比例折算。7.8 鋼板質(zhì)量分級 鋼板質(zhì)量分級見表7.7.2.3。等級單個(gè)缺陷指示長度mm單個(gè)缺陷指示面積cm2在任一1m1m被檢面積內(nèi)存在的缺陷面積百分比%以下單個(gè)缺陷指示面積不計(jì)cm28025391005051512010010251501001025超過級者表.3 在檢測過程中，檢測人員如確認(rèn)鋼板中有白點(diǎn)、裂紋等危害性缺陷存在時(shí)，應(yīng)評為級。7.9 在檢測過程中對缺陷有疑問，可采用橫波檢測。鋼板橫波檢測按JB/T4730.3-xx承

12、壓設(shè)備無損檢測 第3部分：超聲檢測附錄B進(jìn)行。8 承壓設(shè)備用鍛件超聲檢測8.1 本條適用于承壓設(shè)備用碳鋼和低合金鋼鍛件的超聲檢測，不適用于粗晶材料鍛件的超聲檢測，也不適用于內(nèi)外半徑之比小于80%的環(huán)形和筒形鍛件的橫波檢測。8.2 探頭的選用 雙晶直探頭的公稱頻率應(yīng)選用5MHz，探頭晶片面積不小于150mm2； 單晶直探頭的公稱頻率應(yīng)選用2MHz5MHz，探頭晶片一般為14mm25mm。8.3 試塊的選用：應(yīng)根據(jù)工件厚度、檢測面形狀和選用的探頭，按JB/T4730.3-xx承壓設(shè)備無損檢測 第3部分：超聲檢測選擇合適的試塊。8.4 檢測方法 原則上應(yīng)從兩個(gè)相互垂直的方向進(jìn)行縱波檢測，盡可能檢測到

13、鍛件的全體積。 鍛件厚度超過400mm時(shí)，應(yīng)從相對兩端面進(jìn)行100%的掃查。 對筒形和環(huán)形鍛件還應(yīng)增加橫波檢測（按JB/T4730.3-xx承壓設(shè)備無損檢測第3部分：超聲檢測附錄C進(jìn)行）。8.5 靈敏度的確定 單直探頭基準(zhǔn)靈敏度的確定：當(dāng)被檢部位的厚度大于或等于探頭的3倍近場區(qū)長度，且探測面與底面平行時(shí)，原則上可采用底波計(jì)算法確定基準(zhǔn)靈敏度。也可直接采用CSI標(biāo)準(zhǔn)試塊確定基準(zhǔn)靈敏度。 雙晶直探頭基準(zhǔn)靈敏度的確定：使用CS試塊，依次測試一組不同檢測距離的3mm平底孔（至少3個(gè)），調(diào)節(jié)衰減器，作出距離波幅曲線，并以次作為基準(zhǔn)靈敏度。 掃查靈敏度一般不得低于最大檢測距離處的2mm平底孔當(dāng)量直徑。8.

14、6 工件材質(zhì)衰減系數(shù)的測定 在工件無缺陷完好區(qū)域，選取三處檢測面與底面平行且有代表性的部位，調(diào)節(jié)儀器使第一次底波（B1或Bn）為滿刻度的50%，記錄此時(shí)衰減器讀數(shù)，再調(diào)節(jié)衰減器，使第二次底波（B2或Bm）為滿刻度的50%，兩次衰減器讀數(shù)之差即為（B1、B2）或（Bn、Bm）的dB差值（不考慮底面反射損失）。 衰減系數(shù)計(jì)算。 工件上三處衰減系數(shù)的平均值即作為該工件的衰減系數(shù)。8.7 缺陷當(dāng)量的確定 被檢缺陷的深度大于或等于探頭的3倍近場區(qū)時(shí)，采用AVG曲線及計(jì)算法確定缺陷當(dāng)量。對于3倍近場區(qū)內(nèi)的缺陷，可采用距離波幅曲線來確定缺陷當(dāng)量。也可采用其他等效方法來確定。 計(jì)算缺陷當(dāng)量時(shí)，若材質(zhì)衰減系數(shù)超

15、過4dB/m，應(yīng)考慮修正。8.8 缺陷記錄 記錄當(dāng)量直徑超過4mm的單個(gè)缺陷的波幅和位置。 密集區(qū)缺陷：記錄密集區(qū)缺陷中最大當(dāng)量缺陷的位置和缺陷分布。 底波降低量記錄。8.9 質(zhì)量分級等級評定 單個(gè)缺陷的質(zhì)量分級見下表等級缺陷當(dāng)量直徑44+（08dB）4+（812dB）4+（1216dB）4+16dB 缺陷引起底波降低量的質(zhì)量分級見下表等級底波降低量BG/BF88141420202626注：本表僅適用于聲程大于近場區(qū)長度的缺陷。 缺陷密集區(qū)質(zhì)量分級見下表等級密集區(qū)缺陷占檢測總面積的百分比%005510102020 當(dāng)缺陷被檢測人員判定為危害性缺陷時(shí)，鍛件的質(zhì)量等級為級。9 承壓設(shè)備用鋼螺栓（螺

16、柱）的超聲檢測9.1 本條適用于直徑大于M36的承壓設(shè)備用碳鋼和低合金鋼螺栓（螺柱）的超聲檢測。9.2 探頭：采用205MHz5MHz的單晶直探頭或雙晶直探頭。9.3 對比試樣：縱波斜射檢測和橫波軸向檢測的對比試樣應(yīng)采用與被檢工件材料、形式和規(guī)格相同或相近的螺栓或螺柱制作。人工缺陷反射體（切槽）位于最大探測聲程處并應(yīng)垂直于螺栓或螺柱的軸線。9.4 檢測方法 在螺栓或螺柱端部采用縱波小K值斜探頭進(jìn)行縱波斜射檢測。 在螺栓或螺柱無螺紋部位采用K1.5K2.5，頻率為2.5MHz的橫波斜探頭進(jìn)行軸向檢測。9.5 靈敏度的確定 基準(zhǔn)靈敏度的確定按8.5的規(guī)定。 掃查靈敏度一般不得低于最大探測距離處的2

17、mm平底孔當(dāng)量直徑。9.6 缺陷當(dāng)量的確定 一般采用距離波幅曲線或計(jì)算法確定缺陷當(dāng)量。 計(jì)算缺陷當(dāng)量時(shí)，若材質(zhì)衰減系數(shù)超過4dB/m，應(yīng)考慮修正。衰減系數(shù)的測定按8.6的規(guī)定。9.7 缺陷記錄 記錄當(dāng)量直徑大于2mm的單個(gè)缺陷的波幅和位置。 記錄底波降低量。9.8 質(zhì)量分級 單個(gè)缺陷的質(zhì)量分級見下表等級缺陷當(dāng)量直徑23455 由缺陷引起底波降低量的質(zhì)量分級見下表等級底波降低量BG/BF88141420202626注：本表僅適用于聲程大于近場區(qū)長度的缺陷。 當(dāng)缺陷被檢測人員判定為危害性缺陷時(shí)，鍛件的質(zhì)量等級為級。 如螺紋根部出現(xiàn)比切槽回波高的缺陷反射波時(shí)，應(yīng)予以判廢。10 承壓設(shè)備對接焊接接頭超

18、聲檢測10.1 本條適用于母材厚度為6400mm的全熔化焊對接焊接接頭的超聲檢測。10.2 檢測等級確定 檢測等級不得低于B級。 當(dāng)母材厚度水于50mm時(shí)，采用雙面雙側(cè)檢測。 當(dāng)母材厚度大于100mm時(shí)，須選用C級檢測。10.3 試塊 標(biāo)準(zhǔn)試塊采用CSK-1A、CSK-A、CSK-A、CSK-A試塊。 當(dāng)檢測面曲率半徑R小于等于W2/4時(shí)，應(yīng)采用與檢測面曲率相同的對比試塊（W：探頭接觸面寬度）。試塊寬度應(yīng)滿足：b2S/ Do （Do：聲源有效直徑）。10.4 檢測準(zhǔn)備 檢測面.1 檢測區(qū)的寬度應(yīng)是焊縫本身，再加上焊縫兩側(cè)各相當(dāng)于母材厚度30%的一段區(qū)域（510mm）。.2 探頭移動區(qū)應(yīng)清除焊接

19、飛濺、鐵屑、油垢及其他雜質(zhì)。檢測面應(yīng)打磨平整，便于探頭掃查。.3 去除余高的焊縫，應(yīng)打磨至與臨近母材平齊。保留余高的焊縫，應(yīng)對咬邊、較大的隆起和凹陷進(jìn)行適當(dāng)修磨和圓滑過渡，以免影響檢測結(jié)果的評定。 探頭K值和角的選用.1 板厚在625mm時(shí)選用K3.0K2.0（7260）探頭。.2 板厚在大于2546mm時(shí)選用K2.5K1.5（6856）探頭。.3 板厚在大于46120mm時(shí)選用K2.0K1.0（6045）探頭。.4 板厚在大于120400mm時(shí)選用K2.0K1.0（6045）探頭。 檢測頻率：一般為25MHz。 母材檢測：對C級檢測，斜探頭掃查聲束通過的母材區(qū)域，應(yīng)先用直探頭檢測。 掃描時(shí)基

20、線的調(diào)節(jié).1 掃描比例依據(jù)工件厚度和選用的探頭角度確定，最大檢驗(yàn)范圍應(yīng)調(diào)至熒光屏?xí)r基線滿刻度的2/3以上。 .2 檢測面曲率半徑RW2/4時(shí)，可在平面對比試塊上調(diào)節(jié)。 .3 當(dāng)RW2/4時(shí)，探頭楔塊應(yīng)磨至與工件曲面相吻合。 距離波幅曲線制作和檢測靈敏度確定 .1 根據(jù)被檢工件厚度，以所用探頭和儀器在試塊上實(shí)測的數(shù)據(jù)繪制。.2 距離波幅曲線的靈敏度選擇.2.1 壁厚為6120mm的焊接接頭，其距離波幅曲線靈敏度按下表的規(guī)定。試塊型式板厚mm評定線定量線判廢線CSK-A646240-18dB240-12dB240-4dB46120240-14dB240-8dB240+2dBCSK-A81516-1

21、2dB16-6dB16+2dB154616-9dB16-3dB16+5dB4612016-6dB1616+10dB.2.2 壁厚為120400mm的焊接接頭，其距離波幅曲線靈敏度按下表的規(guī)定。試塊型式板厚mm評定線定量線判廢線CSK-A120400d-16dBd-10dBd注：d為橫孔直徑.2.3 掃查靈敏度不低于評定線靈敏度。10.5 平板對接焊接接頭的超聲檢測 為檢測縱向缺陷，斜探頭應(yīng)垂直于焊縫中心線放置在檢測面上，作鋸齒型掃查，探頭前后移動的范圍應(yīng)保證掃查到全部焊縫截面及熱影響區(qū)，同時(shí)在保持探頭垂直焊縫的條件下，應(yīng)作1015角的左右轉(zhuǎn)動。 為確定缺陷位置、方向、形狀，可采用前后、左右、轉(zhuǎn)

22、角、環(huán)繞等四種掃查方式。 對電渣焊縫還應(yīng)增加與焊縫中心線45的斜向掃查。 探測橫向缺陷時(shí)進(jìn)行平行和斜平行掃查，角度為1020。 經(jīng)掃查判斷為缺陷的部位應(yīng)在焊縫表面作出標(biāo)記。 曲面工件對接焊縫的檢驗(yàn)及缺陷深度和水平距離的修正。 根據(jù)工件曲率和材料厚度選擇探頭角度和曲面試塊確保聲束能掃查到整個(gè)焊縫厚度，聲束在曲底面的入射角不應(yīng)超過70。 探頭接觸面修磨后，其入射點(diǎn)和折射角應(yīng)用曲面試塊實(shí)際測定。 當(dāng)R大于W2/4時(shí)，缺陷深度和水平距離的確定，必要時(shí)應(yīng)進(jìn)行修正。10.6 管座角焊縫的檢測 在選擇檢測面和探頭時(shí)應(yīng)考慮到各種類型缺陷的可能性，并使聲束盡可能垂直于該焊接接頭結(jié)構(gòu)的主要缺陷。 根據(jù)結(jié)構(gòu)形式，可

23、選擇以下一種或幾種方式組合實(shí)施檢測。.1 在接管內(nèi)壁采用直探頭檢測。.2 在容器內(nèi)壁采用直探頭檢測。.3 在接管外壁采用斜探頭檢測。.4 在接管內(nèi)壁采用斜探頭檢測。.5 在容器外壁采用斜探頭檢測。 管座角焊縫以直探頭檢測為主，必要時(shí)應(yīng)增加斜探頭檢測的內(nèi)容。斜探頭的距離波幅曲線靈敏度按10.4.6.2.1的規(guī)定，直探頭的距離波幅曲線靈敏度按下表的規(guī)定。評定線定量線判廢線2mm平底孔3mm平底孔6mm平底孔10.7 T型焊接接頭的超聲檢測 在選擇檢測面和探頭時(shí)應(yīng)考慮到各種類型缺陷的可能性，并使聲束盡可能垂直于該焊接接頭結(jié)構(gòu)的主要缺陷。 根據(jù)結(jié)構(gòu)形式，可選擇以下一種或幾種方式組合實(shí)施檢測。.1 用斜

24、探頭從翼板外側(cè)用直射法檢測。.2 用斜探頭在腹板一側(cè)用直射法或一次反射法檢測。.3 用直探頭在翼板外側(cè)沿焊接接頭檢測，或用斜探頭（K1）在翼板外側(cè)沿焊接接頭檢測。 斜探頭的距離波幅曲線靈敏度應(yīng)以腹板厚度按10.4.6.2.1的規(guī)定，直探頭的距離波幅曲線靈敏度應(yīng)以翼板厚度按下表的規(guī)定。評定線定量線判廢線2mm平底孔3mm平底孔4mm平底孔 對缺陷進(jìn)行等級評定時(shí)，均以腹板厚度為準(zhǔn)。10.8 缺陷定量檢測 靈敏度應(yīng)調(diào)到定量線靈敏度。 對所有反射波幅達(dá)到或超過定量線的缺陷，均應(yīng)確定其位置、最大反射波幅、缺陷當(dāng)量、缺陷走向和缺陷自身高，并對缺陷的類型和性質(zhì)盡可能作出判斷。 缺陷位置測定：以缺陷最大反射波

25、的位置為準(zhǔn)。.1 缺陷位置參數(shù)的測定及標(biāo)注方法。.2 從檢驗(yàn)區(qū)段編號至缺陷位置的距離用L表示。 .3 缺陷位置到檢測面的垂直距離用h表示。.4 缺陷位置離開焊縫中心線的距離用q表示。.5 用直尺實(shí)際測量，h和水平距離在熒光屏上直接讀出或經(jīng)簡單計(jì)算后得出。 最大反射波幅的測定：將探頭移至缺陷出現(xiàn)最大反射波信號的位置，測定波幅大小，并確定其在距離波幅曲線中的區(qū)域。 缺陷定量.1 缺陷當(dāng)量直徑，主要用于直探頭檢測，可采用公式計(jì)算、距離波幅曲線和試塊對比來確定缺陷當(dāng)量尺寸。.2 缺陷指示長度L的檢測方法：.2.1 當(dāng)缺陷反射波只有一個(gè)高點(diǎn)，且位于區(qū)及以上時(shí)，用6dB法。.2.2 若缺陷波有多個(gè)高點(diǎn)，且

26、位于區(qū)及以上時(shí)，用端點(diǎn)6dB法。.2.3 當(dāng)缺陷反射波峰位于區(qū)，如認(rèn)為有必要記錄，將探頭左右移動，使波幅降至評定線，以次測定缺陷指示長度。.3 缺陷自身高度測定：前后、左右移動探頭，根據(jù)缺陷長度方向和高度方向的波形變化情況，選擇采用AVG法、6dB法、端點(diǎn)衍射回波法或端點(diǎn)最大回波法確定缺陷自身高度。10.9 缺陷類型和性質(zhì)判定 對超標(biāo)缺陷應(yīng)根據(jù)缺陷的波幅高度、位置、取向、指示長度、自身高度，再結(jié)合缺陷靜態(tài)和動態(tài)波形、回波包絡(luò)線和掃查方法，以及焊接接頭的焊接方法、焊接工藝、工件結(jié)構(gòu)、坡口形式、材料特性、熱處理狀態(tài)來判斷缺陷類型和性質(zhì)。通常應(yīng)確定點(diǎn)狀缺陷、線狀缺陷（條狀夾渣、未焊透、未熔合等）、面

27、狀缺陷（裂紋、面狀未焊透、面狀未熔合等）。 對采用超聲檢測確定缺陷尺寸和類型比較困難或分布比較密集的缺陷，應(yīng)增加射線檢測或其他檢測，以便進(jìn)一步綜合判斷。 對在用承壓設(shè)備超聲檢測發(fā)現(xiàn)的缺陷，應(yīng)與制造和安裝的原始資料、歷次檢驗(yàn)檢測報(bào)告核對，以進(jìn)一步判定本次發(fā)現(xiàn)的缺陷是否是新產(chǎn)生的，以及是否有擴(kuò)展。10.10 缺陷記錄 應(yīng)根據(jù)相應(yīng)在用承壓設(shè)備定期檢驗(yàn)規(guī)則的要求對缺陷的超聲檢測結(jié)果進(jìn)行記錄。 記錄內(nèi)容應(yīng)包括缺陷位置、類型、取向、波幅、指示長度和自身高度以及缺陷分布圖，記錄由操作人員和責(zé)任人員簽字。10.11 缺陷評定 缺陷指示長度小于10mm時(shí)，按5mm計(jì)。 相鄰兩缺陷在一直線上，其間距小于其中較小的

28、缺陷長度時(shí)，應(yīng)作為一條缺陷處理，以兩缺陷長度之和作為其指示長度（間距不計(jì)入）。 超過評定線的信號應(yīng)注意其是否具有裂紋等危害性缺陷性，如有懷疑時(shí)應(yīng)采取改變探頭角度，增加檢測面，觀察動態(tài)波型，結(jié)合結(jié)構(gòu)工藝特征判定或輔以其它檢驗(yàn)方法作綜合判定。10.12 質(zhì)量分級：按下表規(guī)定執(zhí)行。 質(zhì)量分級表等級板厚Tmm反射波幅（所在區(qū)域）單個(gè)缺陷指示長Lmm多個(gè)缺陷累積長度L，mm6400非裂紋類缺陷6120L=T/3，最小為10，最大不超過30在任意9T焊縫長度范圍內(nèi)L不超過T120400L=T/3，最大不超過506120L=2T/3，最小為12，最大不超過40在任意4.5T焊縫長度范圍內(nèi)L不超過T12040

29、0最大不超過756400超過級者超過級者所有缺陷、裂紋等危害性缺陷11 復(fù)探：由另一名級人員對缺陷部分和懷疑部位進(jìn)行復(fù)探，復(fù)探結(jié)果與初探結(jié)果有出入且檢驗(yàn)員意見有分歧時(shí)，須由第三者繼續(xù)復(fù)探或采用其它輔助檢驗(yàn)方法。12 檢測記錄 12.1 應(yīng)由檢測人員記錄，記錄要真實(shí)，內(nèi)容齊全。 12.2 反射波幅位于區(qū)以上的缺陷均應(yīng)記錄，位于區(qū)的較長缺陷也應(yīng)記錄備查。 12.3 記錄的主要內(nèi)容：工作名稱、編號、焊縫編號、坡口形式、焊縫種類、母材材質(zhì)、規(guī)格、表面情況、檢測方法、檢驗(yàn)規(guī)程、驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)，所使用的儀器、探頭、偶合劑、試塊、掃描比例、檢測靈敏度等。13 檢測報(bào)告13.1 報(bào)告主要內(nèi)容包括：工件名稱、檢測編號、檢測方法、檢測部位示意圖，檢測范圍、檢測比例、驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)、缺陷情況、返修情況、檢測結(jié)論等。13.2 填寫報(bào)告應(yīng)字跡工整，定量準(zhǔn)確，簽字審批手續(xù)完整。14 資料歸檔 14.1 檢測記錄和報(bào)告等資料均應(yīng)與受檢設(shè)備的其他檢驗(yàn)資料一起及時(shí)交資料室歸檔，保存期不低于七年。 14.2 技術(shù)資料交資料室后必須履行交接手續(xù)，資料員應(yīng)查對核準(zhǔn)其資料的完整。